扫描电子显微镜（scanning electron microscopy,SEM）是采用高聚焦的高能电子束扫描样品,利用样品表面的二次电子、背散射电子、特征X射线进行成像和元素分析,从而获得形貌、结构、成分和结晶学等信息的一种仪器分析方法。本文介绍了SEM的原理、特点、主要类型和各国药典标准,综述了国内外SEM在药品质量控制中的应用,为SEM在制药领域中的进一步应用和《中国药典》SEM标准的制订提供参考。