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NESLAB循环水箱的失效分析

NESLAB循环水箱的失效分析

ISSN:1007-1032
1990年第17卷第2期
肖觉民,成奋强,李传平 Xiao Juemin Chen Fenqiang Li Chuanping Material Test and Research Centre

本文研究了NESLAB循环水箱控制电路失效的原因及对环境温度的要求;并提供了维修和保护的方案.控制电路的易损件是感温探头,水箱的环境温度不能高于27℃.

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ISSN:1007-1032
1990年第17卷第2期

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